2016年5月25日下午，北京嘉德利达科技（理学代理）技术人员对理学X射线衍射仪进行技术讨论交流，科技研发部下属各部门员工参与此次学习交流。北京嘉德利达科技技术人员针对X射线衍射仪的基本原理、具体参数、测量项目等方面进行详细讲解。

   理学X射线衍射仪拥有垂直式的测角仪，可方便放置样品，测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。最优化的光路及新探测器可大大提高强度。小型化、高效能的组合外形具备高度安全性能的完全密闭设计，使仪器可简单地使用、操作、维护，可充分调整光学系统。可用于多晶材料定性、定量分析，测量结晶度、晶粒尺寸和应变、结构表征用Rietveld精修，晶格参数细化。可广泛应用于材料科学、化学、晶体学、地质、环境污染等各种材料结构分析领域。
针对理学X射线衍射仪，双方从多方面进行详细的沟通和交流，通过此次交流希望对后期在仪器及技术的学习交流方面有很大的帮助。